РФ, г. Москва
Телефон: +7 (916) 137-93-44, mail: cheredeev1@ya.ru

Если изображения не видно, обновите страницу

ТЕПЛОВИЗОРЫ

ПРИМЕНЕНИЕ

Анализ неисправностей электронных деталей (определение короткого замыкания)

На сегодняшний день электронные детали становятся все меньше и меньше, а плотность упаковки в них все выше и выше.

Поэтому при возникновении неисправностей установление их причин и самой неисправной области становится чрезвычайно трудной задачей из-за микроскопических размеров деталей и высокоплотной интеграции.

В поврежденной области с коротким замыканием электрическое сопротивление становится чрезмерно низким, что приводит в этом месте к повышению температуры.

Поскольку при использовании TVS можно выявить поврежденную область детали с коротким замыканием в виде участка с чрезмерно высокой температурой с применением микроскопа, этот метод широко используется с целями диагностического анализа неисправностей. Рис. 1. Изменение температуры в IC-микрочипе после подключения питания. Участки с высокой температурой указывают на короткое замыкание

(изображение получено при использовании TVS-8100 с микроскопом (10 мкм)).

РФ, г. Москва
Телефон: +7 (916) 137-93-44,
mail: cheredeev1@ya.ru

©1991-2022. Продажа тепловизоров.

Яндекс.Метрика         Рейтинг@Mail.ru